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韓國Micro Pioneer XRF－2000熒光金屬鍍層測厚儀
X射線熒光測厚儀可用於測量一般工件╃•、PCB及半導體產品的各鍍層厚度全自動XYZ樣品臺；雷射自動對焦╃•、自動對位；溫度補償；十字線自動調整五種report format可供選擇

更新時間╃▩：2017-07-04型號╃▩：韓國Micro Pioneer XRF－2000瀏覽量╃▩：3460

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韓國金屬鍍層測厚儀
金屬鍍層測厚儀可用於測量一般工件╃•、PCB及半導體產品的各鍍層厚度全自動XYZ樣品臺↟•。

更新時間╃▩：2020-06-30型號╃▩：韓國瀏覽量╃▩：538

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XRF-2000X射線測厚儀（XRF-2000）
X射線測厚儀（XRF-2000）可用於測量一般工件╃•、PCB及半導體產品的各鍍層厚度全自動XYZ樣品臺↟↟✘│·，雷射自動對焦╃•、自動對位；溫度補償；有競爭力的價格；五個準直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm） XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量↟↟✘│·，同時可對電鍍液進行分析↟↟✘│·，不單效能優越↟↟✘│·，而且價錢*↟↟✘│·，同比其他牌子相同配置的機器↟↟✘│·，XRF2000為您大大節省成本↟•。

更新時間╃▩：2015-08-25型號╃▩：XRF-2000瀏覽量╃▩：1588

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